詳細(xì)摘要： 該試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件...
產(chǎn)品型號(hào)：ZQ-40所在地：北京市更新時(shí)間：2026-09-21 在線留言
北京東工聯(lián)華科學(xué)儀器設(shè)備有限公司
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詳細(xì)摘要： 該試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件...
產(chǎn)品型號(hào)：ZQ-40所在地：北京市更新時(shí)間：2026-09-21 在線留言
詳細(xì)摘要： 國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、制藥等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。
產(chǎn)品型號(hào)：PCT-100所在地：北京市更新時(shí)間：2026-09-21 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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